ABI-3400電路板故障檢測(cè)儀/測(cè)試原理

? ? ? ?英國(guó)abi-3400電路板故障測(cè)試儀培訓(xùn)視頻第3講:講解VI測(cè)試原理,安全的非加電測(cè)試,采用加壓測(cè)流的方法.簡(jiǎn)單的對(duì)比模式無需原理圖,適合電路板在線維修.VI曲線的6種典型圖譜,實(shí)際測(cè)試會(huì)是這6種典型圖譜的疊加所得.三維立體VIF曲線測(cè)試大大提高了VI測(cè)試的效率和故障檢出覆蓋率,是目前非加電測(cè)試手段.測(cè)試條件對(duì)VI和VIF曲線有很大影響,注意針對(duì)不同器件和電路板進(jìn)行調(diào)整,目的是得到大化的測(cè)試圖形,以便用于對(duì)比分析.三維立體VIF曲線測(cè)試可以好的對(duì)故障器件進(jìn)行失效分析,判斷失效的部分原因.abi-3400利用可以擴(kuò)充測(cè)試通道的優(yōu)勢(shì),可以通過測(cè)試治具連接電路板的I/O端口,對(duì)其進(jìn)行阻抗測(cè)試分析,從而快速定位故障通道,為進(jìn)一步維修測(cè)試奠定良好的基礎(chǔ)。