AT256集成電路測(cè)試儀培訓(xùn)視頻第九講:器件學(xué)習(xí)測(cè)試
器件學(xué)習(xí)測(cè)試的講解,新增元件,測(cè)試參數(shù)和掃描參數(shù)的選擇,新增元件,理解判別條件
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AT256集成電路測(cè)試儀培訓(xùn)視頻第九講:器件學(xué)習(xí)測(cè)試
? ? ? ?英國(guó)abi集成電路測(cè)試儀AT256培訓(xùn)視頻第9講:主要講解了集成電路篩選前的如何進(jìn)行學(xué)習(xí)測(cè)試.測(cè)試前要了解清楚被測(cè)集成電路的準(zhǔn)確的型號(hào),生成廠家,生成批次等信息.有三種測(cè)試掃描條件可選,自動(dòng)掃描測(cè)試針對(duì)多種集成電路都可以.手動(dòng)掃描測(cè)試是專門對(duì)接地管腳的掃描測(cè)試,主要適合數(shù)字集成電路測(cè)試使用.矩陣掃描測(cè)試適合多種混合集成電路篩選測(cè)試使用.通常建議選擇自動(dòng)掃描模式,這種方式可以自動(dòng)篩選測(cè)試結(jié)果曲線并顯示,尤其適合初學(xué)者使用.測(cè)試參數(shù)選擇,包括自動(dòng)測(cè)試參數(shù),系統(tǒng)提供標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試參數(shù)組合,用戶自定義參數(shù)三類.一般初學(xué)者建議選擇自動(dòng)測(cè)試參數(shù),專門做失效分析的人員可以根據(jù)被測(cè)器件選擇模擬集成電路測(cè)試參數(shù),數(shù)字集成電路測(cè)試參數(shù),或者自己定義測(cè)試參數(shù).實(shí)例操作演示幫助大家熟悉學(xué)習(xí)測(cè)試的各個(gè)過(guò)程和重點(diǎn)等